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集成電路X-Ray

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半導體微焦點X射線檢測裝備 AX8300S Plus

集成電路X-Ray

半導體微焦點X射線檢測裝備 AX8300S Plus

◆ 2.5D無死角檢測

◆ 高分辨率，解析度2μm

◆ 雙屏雙搖桿

◆ 配備半導體自動檢測算法，單個點檢測1.5S

半導體X-ray

微焦點X射線檢測設備

8300splus詳情頁.jpg

半導體微聚焦X射線檢測設備 AX8300Si

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集成電路X-Ray
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3D離線X-ray檢測設備 AX9500

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半導體X-ray在線檢測設備 LX2000

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